Bewertung der Lebensdauer von Lotverbindungen unter Betrachtung des Fehlermechanismus Elektromigration.

Preis

55,00 €

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Verlag
Fraunhofer IRB
Autor
Jaeschke /
ISBN
9783839604311
Jahr
2012
Medium
Buch
Seitenzahl
167 S.
Bindungsart
Softcover

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